Klientų aptarnavimas: +370 652 87781

Pagalba | Naujas vartotojas | Prisijungti

LIT

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics III: 1-2 August 2010, San Diego, California, United States [Minkštas viršelis]

Lahsen Assoufid

Formatas: Paperback / softback, 150 pages, aukštis x plotis: 229x152 mm, illustrations
Išleidimo metai: 01-Jan-2010
Leidėjas: SPIE Press
ISBN-10: 0819482978
ISBN-13: 9780819482976

Kitos knygos pagal šią temą:

Industrial chemistry & manufacturing technologies - (Šiuo metu turimos knygos: 7 prekės)

Minkštas viršelis
Kaina: 106,75 €
Knygas pristatysime per 3-4 savaites.
Kiekis:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Įdėti į krepšelį
Pristatymas per 4-6 savaites
Įtraukti į pageidavimų sąrašą

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics III: 1-2 August 2010, San Diego, California, United States

Formatas: Paperback / softback, 150 pages, aukštis x plotis: 229x152 mm, illustrations
Išleidimo metai: 01-Jan-2010
Leidėjas: SPIE Press
ISBN-10: 0819482978
ISBN-13: 9780819482976

Kitos knygos pagal šią temą:

Industrial chemistry & manufacturing technologies - (Šiuo metu turimos knygos: 7 prekės)

Pastovi nuoroda: https://www.kriso.lt/db/9780819482976.html

Raktažodžiai:

Goodreads reviews