Klientų aptarnavimas: +370 652 87781

Pagalba | Naujas vartotojas | Prisijungti

LIT

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics: 12 August 2012, San Diego, California, United States, Volume IV [Minkštas viršelis]

Lahsen Assoufid

Formatas: Paperback / softback, aukštis x plotis: 229x152 mm, illustrations
Išleidimo metai: 15-Nov-2012
Leidėjas: SPIE Press
ISBN-10: 0819492183
ISBN-13: 9780819492180

Kitos knygos pagal šią temą:

Applied optics

Minkštas viršelis
Kaina: 91,90 €
Knygas pristatysime per 3-4 savaites.
Kiekis:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Įdėti į krepšelį
Pristatymas per 4-6 savaites
Įtraukti į pageidavimų sąrašą

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics: 12 August 2012, San Diego, California, United States, Volume IV

Formatas: Paperback / softback, aukštis x plotis: 229x152 mm, illustrations
Išleidimo metai: 15-Nov-2012
Leidėjas: SPIE Press
ISBN-10: 0819492183
ISBN-13: 9780819492180

Kitos knygos pagal šią temą:

Applied optics

Pastovi nuoroda: https://www.kriso.lt/db/9780819492180.html

Raktažodžiai:

Goodreads reviews