Atnaujinkite slapukų nuostatas

El. knyga: Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2

  • Formatas: EPUB+DRM
  • Išleidimo metai: 10-Feb-2025
  • Leidėjas: Elsevier Science
  • Kalba: eng
  • ISBN-13: 9780443317217
Kitos knygos pagal šią temą:
  • Formatas: EPUB+DRM
  • Išleidimo metai: 10-Feb-2025
  • Leidėjas: Elsevier Science
  • Kalba: eng
  • ISBN-13: 9780443317217
Kitos knygos pagal šią temą:

DRM apribojimai

  • Kopijuoti:

    neleidžiama

  • Spausdinti:

    neleidžiama

  • El. knygos naudojimas:

    Skaitmeninių teisių valdymas (DRM)
    Leidykla pateikė šią knygą šifruota forma, o tai reiškia, kad norint ją atrakinti ir perskaityti reikia įdiegti nemokamą programinę įrangą. Norint skaityti šią el. knygą, turite susikurti Adobe ID . Daugiau informacijos  čia. El. knygą galima atsisiųsti į 6 įrenginius (vienas vartotojas su tuo pačiu Adobe ID).

    Reikalinga programinė įranga
    Norint skaityti šią el. knygą mobiliajame įrenginyje (telefone ar planšetiniame kompiuteryje), turite įdiegti šią nemokamą programėlę: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Norint skaityti šią el. knygą asmeniniame arba „Mac“ kompiuteryje, Jums reikalinga  Adobe Digital Editions “ (tai nemokama programa, specialiai sukurta el. knygoms. Tai nėra tas pats, kas „Adobe Reader“, kurią tikriausiai jau turite savo kompiuteryje.)

    Negalite skaityti šios el. knygos naudodami „Amazon Kindle“.

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part Two, Volume 233 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The release in the series features articles on Electrostatic Energy, Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields, Mass Analyzers based on Fourier Transform, Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers, Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers, and Radiofrequency Mass Analyzers. - Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authors- Presents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series- Features articles on Electrostatic Energy, Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields, and more