neleidžiama
neleidžiama
Skaitmeninių teisių valdymas (DRM)
Leidykla pateikė šią knygą šifruota forma, o tai reiškia, kad norint ją atrakinti ir perskaityti reikia įdiegti nemokamą programinę įrangą. Norint skaityti šią el. knygą, turite susikurti Adobe ID . Daugiau informacijos čia. El. knygą galima atsisiųsti į 6 įrenginius (vienas vartotojas su tuo pačiu Adobe ID).
Reikalinga programinė įranga
Norint skaityti šią el. knygą mobiliajame įrenginyje (telefone ar planšetiniame kompiuteryje), turite įdiegti šią nemokamą programėlę: PocketBook Reader (iOS / Android)
Norint skaityti šią el. knygą asmeniniame arba Mac kompiuteryje, Jums reikalinga Adobe Digital Editions (tai nemokama programa, specialiai sukurta el. knygoms. Tai nėra tas pats, kas Adobe Reader, kurią tikriausiai jau turite savo kompiuteryje.)
Negalite skaityti šios el. knygos naudodami Amazon Kindle.
1. Principles and Basic Modes of Atomic Force Microscopy
2. Advanced Modes of Electrostatic and Kelvin Probe Force Microscopy for Energy Applications
3. Piezoresponse Force Microscopy and Electrochemical Strain Microscopy
4. Hybrid AFM Technique: Atomic Force Microscopy-Scanning Electrochemical Microscopy
5. Scanning Microwave Impedance Microscopy
6. Atomic Force Microscopy-Based Infrared Microscopy for Chemical Nano-Imaging and Spectroscopy
7. Application of AFM in Lithium Batteries Research
8. Application of AFM in Solar Cell Research
9. Application of AFM for Analyzing the Microstructure of Ferroelectric Polymer as an Energy Material
10. Application of AFM in Microbial Energy Systems
11. Practical Guidance of AFM Operations for Energy Research