Atnaujinkite slapukų nuostatas

El. knyga: Diagnostic Measurements In Lsi/vlsi Integrated Circuits Production

(.), (.), (.)
Kitos knygos pagal šią temą:
Diagnostic Measurements In Lsi/vlsi Integrated Circuits ProductionDidesnis paveikslėlis
Kitos knygos pagal šią temą:

DRM apribojimai

  • Kopijuoti:

    neleidžiama

  • Spausdinti:

    neleidžiama

  • El. knygos naudojimas:

    Skaitmeninių teisių valdymas (DRM)
    Leidykla pateikė šią knygą šifruota forma, o tai reiškia, kad norint ją atrakinti ir perskaityti reikia įdiegti nemokamą programinę įrangą. Norint skaityti šią el. knygą, turite susikurti Adobe ID . Daugiau informacijos  čia. El. knygą galima atsisiųsti į 6 įrenginius (vienas vartotojas su tuo pačiu Adobe ID).

    Reikalinga programinė įranga
    Norint skaityti šią el. knygą mobiliajame įrenginyje (telefone ar planšetiniame kompiuteryje), turite įdiegti šią nemokamą programėlę: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Norint skaityti šią el. knygą asmeniniame arba „Mac“ kompiuteryje, Jums reikalinga  Adobe Digital Editions “ (tai nemokama programa, specialiai sukurta el. knygoms. Tai nėra tas pats, kas „Adobe Reader“, kurią tikriausiai jau turite savo kompiuteryje.)

    Negalite skaityti šios el. knygos naudodami „Amazon Kindle“.

This book describes means in improving the technology of LSI/VLSI ICs production. It does so by concentrating on improvements of manufacturing yield and quality of the products by detecting weak points which should be eliminated on the way up the learning curve. The book presents a systematic approach to the problem, covering primarily methods based on the use of test patterns measurements, in both mass production and in research and development activities. The main groups of defects found in IC chips and ways to detect them using test structures are discussed in detail.
Daugiau apie elektronines knygas Daugiau apie elektronines knygas
Pastovi nuoroda: https://www.kriso.lt/db/97898145139372e.html