Atnaujinkite slapukų nuostatas

El. knyga: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

Edited by
  • Formatas: 856 pages
  • Išleidimo metai: 08-Oct-2018
  • Leidėjas: CRC Press Inc
  • Kalba: eng
  • ISBN-13: 9781482293357
Kitos knygos pagal šią temą:
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,Didesnis paveikslėlis
  • Formatas: 856 pages
  • Išleidimo metai: 08-Oct-2018
  • Leidėjas: CRC Press Inc
  • Kalba: eng
  • ISBN-13: 9781482293357
Kitos knygos pagal šią temą:

DRM apribojimai

  • Kopijuoti:

    neleidžiama

  • Spausdinti:

    neleidžiama

  • El. knygos naudojimas:

    Skaitmeninių teisių valdymas (DRM)
    Leidykla pateikė šią knygą šifruota forma, o tai reiškia, kad norint ją atrakinti ir perskaityti reikia įdiegti nemokamą programinę įrangą. Norint skaityti šią el. knygą, turite susikurti Adobe ID . Daugiau informacijos  čia. El. knygą galima atsisiųsti į 6 įrenginius (vienas vartotojas su tuo pačiu Adobe ID).

    Reikalinga programinė įranga
    Norint skaityti šią el. knygą mobiliajame įrenginyje (telefone ar planšetiniame kompiuteryje), turite įdiegti šią nemokamą programėlę: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Norint skaityti šią el. knygą asmeniniame arba „Mac“ kompiuteryje, Jums reikalinga  Adobe Digital Editions “ (tai nemokama programa, specialiai sukurta el. knygoms. Tai nėra tas pats, kas „Adobe Reader“, kurią tikriausiai jau turite savo kompiuteryje.)

    Negalite skaityti šios el. knygos naudodami „Amazon Kindle“.

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math background equivalent to sophomore-level science or engineering courses, including differential equations and matrix algebra. Quantum mechanics is not assumed. Produced from double-spaced typescript. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

CHAPTER 1: FUNDAMENTAL PROPERTIES OF ELECTRONS AND IONS. CHAPTER 2: ELECTRON EMISSION AND EMISSION AND IONIZATION MICROSCOPY. CHAPTER. 3: ELECTRON AND ION OPTICS AND OPTICAL SYSTEMS. CHAPTER 4: ELECTRON AND ION PROBE MICROANALYSIS. CHAPTER 5: ELECTRON AND ION MICROSCOPY OF SURFACES. CHAPTER 6: ELECTRON DIFFRACTION. CHAPTER 7: TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY. CHAPTER 8: HIGH-VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY.

Lawrence E. Murr
Daugiau apie elektronines knygas Daugiau apie elektronines knygas
Pastovi nuoroda: https://www.kriso.lt/db/97814822933572e.html
Raktažodžiai: