Atnaujinkite slapukų nuostatas

El. knyga: Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2

Edited by , Edited by , Edited by
  • Formatas: PDF+DRM
  • Serija: NanoScience and Technology
  • Išleidimo metai: 18-Sep-2009
  • Leidėjas: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
  • Kalba: eng
  • ISBN-13: 9783642014956
Kitos knygos pagal šią temą:
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2Didesnis paveikslėlis
  • Formatas: PDF+DRM
  • Serija: NanoScience and Technology
  • Išleidimo metai: 18-Sep-2009
  • Leidėjas: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
  • Kalba: eng
  • ISBN-13: 9783642014956
Kitos knygos pagal šią temą:

DRM apribojimai

  • Kopijuoti:

    neleidžiama

  • Spausdinti:

    neleidžiama

  • El. knygos naudojimas:

    Skaitmeninių teisių valdymas (DRM)
    Leidykla pateikė šią knygą šifruota forma, o tai reiškia, kad norint ją atrakinti ir perskaityti reikia įdiegti nemokamą programinę įrangą. Norint skaityti šią el. knygą, turite susikurti Adobe ID . Daugiau informacijos  čia. El. knygą galima atsisiųsti į 6 įrenginius (vienas vartotojas su tuo pačiu Adobe ID).

    Reikalinga programinė įranga
    Norint skaityti šią el. knygą mobiliajame įrenginyje (telefone ar planšetiniame kompiuteryje), turite įdiegti šią nemokamą programėlę: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Norint skaityti šią el. knygą asmeniniame arba „Mac“ kompiuteryje, Jums reikalinga  Adobe Digital Editions “ (tai nemokama programa, specialiai sukurta el. knygoms. Tai nėra tas pats, kas „Adobe Reader“, kurią tikriausiai jau turite savo kompiuteryje.)

    Negalite skaityti šios el. knygos naudodami „Amazon Kindle“.

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.



This report on scanning probe microscopy covers the latest in many related topics such as force spectroscopy and mapping with atomic resolution, atomic manipulation, magnetic exchange force microscopy, atomic and molecular imaging in liquids, and much more.

Method for Precise Force Measurements.- Force Spectroscopy on
Semiconductor Surfaces.- Tip#x2013;Sample Interactions as a Function of
Distance on Insulating Surfaces.- Force Field Spectroscopy in Three
Dimensions.- Principles and Applications of the qPlus Sensor.- Study of Thin
Oxide Films with NC-AFM: Atomically Resolved Imaging and Beyond.- Atom
Manipulation on Semiconductor Surfaces.- Atomic Manipulation on Metal
Surfaces.- Atomic Manipulation on an Insulator Surface.- Basic Mechanisms for
Single Atom Manipulation in Semiconductor Systems with the FM-AFM.-
Multi-Scale Modelling of NC-AFM Imaging and Manipulation at Insulating
Surfaces.- Magnetic Exchange Force Microscopy.- First-Principles Simulation
of Magnetic Exchange Force Microscopy on Fe/W(001).- Frequency Modulation
Atomic Force Microscopy in Liquids.- Biological Applications of FM-AFM in
Liquid Environment.- High-Frequency Low Amplitude Atomic Force Microscopy.-
Cantilever Dynamics and Nonlinear Effects in Atomic Force Microscopy.
Daugiau apie elektronines knygas Daugiau apie elektronines knygas
Pastovi nuoroda: https://www.kriso.lt/db/97836420149562e.html
Raktažodžiai: