Atnaujinkite slapukų nuostatas

El. knyga: VLSI-SoC: Forward-Looking Trends in IC and Systems Design: 18th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2010, Madrid, Spain, September 27-29, 2010, Revised Selected Papers

Edited by , Edited by , Edited by
Kitos knygos pagal šią temą:
VLSI-SoC: Forward-Looking Trends in IC and Systems Design: 18th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2010, Madrid, Spain, September 27-29, 2010, Revised Selected PapersDidesnis paveikslėlis
Kitos knygos pagal šią temą:

DRM apribojimai

  • Kopijuoti:

    neleidžiama

  • Spausdinti:

    neleidžiama

  • El. knygos naudojimas:

    Skaitmeninių teisių valdymas (DRM)
    Leidykla pateikė šią knygą šifruota forma, o tai reiškia, kad norint ją atrakinti ir perskaityti reikia įdiegti nemokamą programinę įrangą. Norint skaityti šią el. knygą, turite susikurti Adobe ID . Daugiau informacijos  čia. El. knygą galima atsisiųsti į 6 įrenginius (vienas vartotojas su tuo pačiu Adobe ID).

    Reikalinga programinė įranga
    Norint skaityti šią el. knygą mobiliajame įrenginyje (telefone ar planšetiniame kompiuteryje), turite įdiegti šią nemokamą programėlę: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Norint skaityti šią el. knygą asmeniniame arba „Mac“ kompiuteryje, Jums reikalinga  Adobe Digital Editions “ (tai nemokama programa, specialiai sukurta el. knygoms. Tai nėra tas pats, kas „Adobe Reader“, kurią tikriausiai jau turite savo kompiuteryje.)

    Negalite skaityti šios el. knygos naudodami „Amazon Kindle“.

This book contains extended and revised versions of the best papers presented at the 18th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2010, held in Madrid, Spain, in September 2010. The 14 papers included in the book were carefully reviewed and selected from the 52 full papers presented at the conference. The papers cover a wide variety of excellence in VLSI technology and advanced research. They address the current trend toward increasing chip integration and technology process advancements bringing about stimulating new challenges both at the physical and system-design levels, as well as in the test of theses systems.
Daugiau apie elektronines knygas Daugiau apie elektronines knygas
Pastovi nuoroda: https://www.kriso.lt/db/97836422856602e.html
Raktažodžiai: